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光学プロファイラーの基本 表面プロファイリング 表面プロファイリング


NexView™3D 光学面プロファイラー

NexView3D 光学面プロファイラーは、ナノメートル未満の精度で、視野に依存せずに、非常に滑らかな表面から粗い表面までのあらゆる表面の測定に優れています。 
測定タイプには
平坦性、粗さ、大型
ステップやセグメント、薄
膜、および深い傾斜などがあり、
高さは
< 1 nm up から最大 20000 ミクロンまでです。

Nexview システム

シリコンカーバイドミラー:結晶粒および
研磨プロセスの足跡をご覧ください

米国 25 セント硬貨の 3D 表面プロファイラー

米国 25 セント硬貨の詳細

Mx ソフトウェア - Nexview プロファイラーの分析と制御

Mx Software 画面(画像をクリックして表示を拡大)

120 度コーンの表面プロファイラー測定

120° コーン測定

ダイヤモンド回転光学の 3D 表面プロファイラー測定

ダイヤモンド回転光学

Nexview Objectives および 200 mm 自動化工業ステージ

自動化 200 mm 統合測定ステージ

プロファイリングを傷つけません - 粗い表面から超滑らかな表面までの、薄膜、急勾配、および大型ステップを含むすべての種類の表面を測定します

ゲージ可能な性能 - 最も要求の厳しい製造アプリケーション用の優れた精度と再現性

振動耐性技術 - ほぼすべての環境において堅実な稼働

• ISO 25178 表面測定 パラメータ。

すべての新しい図形ワークフローソフトウェア - わずかなトレーニングでさらなる
性能。

合理化された設計 - 手動制御なし。完全自動化可能。

見る: Nexview™ 光学プロファイラーの基本測定のセットアップ方法を学び使ってみましょう。
見る: 優れた衝突保護技術がテストサンプルや対物レンズへの損傷を防ぎます。

必要なプロファイラーはこれだけです

測定したい表面タイプに基づいてプロファイラーを選択する必要はもうありません。Nexview プロファイラーは表面粗さがオングストローム未満の非常に滑らかな光学面から、85 度までの機械加工された急な角度まで、ほとんどすべての表面 のトポグラフィーを測定します。すべて 3D で、接触せずに行われ、他のプロファイリング技術(スタイラス、焦点共有、焦点スキャン)に見られる欠点がないので最高の品質を提供します。

すべての新しい分析および制御ソフトウェア

NewView プロファイラーは全く新しい Mx™ ソフトウェアを使用し、相互対話的な豊富な 3D マップ、定量的トポグラフィー情報、直観的な測定ナビゲーション、および内蔵 SPC(統計、チャート作成、および合格/不合格限度の制御)などの包括的なシステム制御およびデータ分析を行います。

• 相互対話的 3D プロット – ズーム、パン、回転、さらに結果の更新をリアルタイムで行います。

• 柔軟な分析 – 幅広い定量的結果、データビュー、およびフィルターが含まれています。

高度な分析ツール はデータ調査、操作、および測定比較用の自由形状レイアウト領域を提供します。

直観的なユーザーインターフェース およびワークフローベースの設計により、簡単に理解して使用できます。

移動ツールストリップ はカスタマイズ可能で、ワークフローに合わせて配置換えできます。

透明膜がある場合の測定、および 2D ビジョン分析などの特定のニーズ向けの追加アプリケーションモジュールは、必要があればご利用可能です。

自動化操作

Nexview プロファイラー は手動制御のないフライ・バイ・ワイヤツールなので、プログラム済のシーケンスで完全に自動化が可能で、複数のパーツセグメント、レシピベースのイントレイパーツ測定、または大きな表面の幅広い領域ステッチを単一測定として測定することが可能です。

明確、合理化、設計

NexView プロファイラーのオープンワークエリアには、透明な照準線が引いてあるので、測定セットアップや切明が簡単に素早く行えます。

まったく新しい、自動化 200 mm 統合測定ステージはクリーンで効果的な工業デザインの典型です。パーセント修正可能な±4 度の高負荷傾斜ステージが埋め込まれているので、測定表面の調整が簡単です。

デモまたはサンプルの無料計測が可能です!
詳細を質問したり、NewView プロファイラーのデモを依頼したり、御社サンプルを 無料 分析用に送付する場合は以下のフォームを使用してください。

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