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レーザー干渉計 Verifire™ Verifire™ HD Verifire™ HDX DynaFiz® Mx™ ソフトウェア 干渉計アクセサリ 特殊アプリケーション Verifire™ MST 赤外線干渉計 Verifire™ XL 大口径干渉計 アップグレード QPSI™(耐振動測定アルゴリズム) DynaPhase®(瞬間測定機能)
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Verifire™ HD 高解像度干渉計システム、QPSI™ 振動耐性技術搭載
見る: 作業現場での Verifire™ HD QPSI™ デモ。
ZYGO 社の Verifire™ HD 干渉計システムは平面および球面表面の迅速な高解像度測定を提供し、光学コンポーネントおよびアセンブリの波面測定を転送します。干渉計のキャビティ長は精密に調整されている間に高速カメラは複数の干渉縞画像をキャプチャし、ソフトウェアが画像を分析してテスト対象のパーツの非常に詳細な測定を作成します。 中空間周波数
中空間周波数機能を長く隠すことはできません。Verifire HD システムは高解像度カメラを誇っていて、以前は識別が困難であった表面特徴の信頼できる測定が可能になるように光学設計を最適化します。さらに、Mx™ ソフトウェアパッケージは、強力なパワースペクトル密度 (PSD) および回析シミュレーションツールを使用して中空間周波数コンテンツを定量化するための設備を提供します。
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パンフレット ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() メモ:アプリケーションメモのダウンロードにはログインが必要です。詳細はクリックしてください。
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