Verifire™ HD 高解像度干渉計システム、QPSI™ 振動耐性技術搭載

単一ポイントダイヤモンド回転光学面での中空間周波数傍受通信

ZYGO 社の Verifire™ HD 干渉計システムは平面および球面表面の迅速な高解像度測定を提供し、光学コンポーネントおよびアセンブリの波面測定を転送します。干渉計のキャビティ長は精密に調整されている間に高速カメラは複数の干渉縞画像をキャプチャし、ソフトウェアが画像を分析してテスト対象のパーツの非常に詳細な測定を作成します。

中空間周波数
表面特徴の暴露

振動による干渉縞プリントスルーのある PSI 測定、および QPSI™技術を用いて測定された同じ表面との活発な比較 - ノイズの多いプリントスルーなし。

QPSI™ 振動耐性干渉計

QPSI は強力な新しい独占レーザーおよび高フレーム率カメラにより可能です。キャリブレーションや特別なセットアップは不要です。メニューオプションを簡単に変えるだけで、QPSI 技術を有効/無効にできます。

強力な製品寿命の長いレーザー

独自の製品寿命の長いレーザーは ZYGO の設計および製造です。

そのレーザーが当社の厳格な要件と基準を正確に満たように、社内で設計し製造することにしました。当社独自の実証済の設計により比類ない信頼性と長い製品寿命が可能になりました。この高性能レーザーは ZYGO だけが販売しています。

柔軟性を最大化するためのモジュールオプション

Mx™ ソフトウェア

動作方法

平面、レンズ、プリズム - コンピューターディスク、ベアリングやシール面 - 研磨セラミック、およびコンタクトレンズの鋳型などのガラスやプラスチック光学コンポーネントを測定します。

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