UV および IR 干渉計

光学応用は幅広く多様です。最終的な調整とシステム適格性には設計波長でのテストが重要です。リソグラフィー、DVD、および赤外線撮像レンズすべてには設計波長でのテストが必要であり、幅広く多様な波長要件になります。

長きにわたり干渉計テストの世界的なリーダーとしてみなされている ZYGO は、深紫外線から遠赤外までのほとんどの要求の厳しい要件を満たす、多くの特殊搭載干渉計システムを設計し構築してきました。ZYGO はまた上記は超の基準光学(透過球面 および 透過平面) も作成しています。

次の表は現在 ZYGO 干渉計で利用可能な様々な波長を一覧しています。

上記システムについての詳細、または以下に示す以外での波長でのテストが必要な場合は 最寄りの ZYGO セールス担当 にお問い合わせください。

波長		アプリケーション
1053 nm		レーザー核融合
1064 nm		レーザーロッドテスト、軍事画像システムテスト、一般的な近赤外線光学テストニーズ。
1550 nm		電気通信光学テスト。
3.39 μm		一般的な赤外線光学システムのテスト。
10.6 µm		IR 光学システムのテスト、粗い表面テスト。

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