カスタム計測ソリューション

Verifire™ 干渉計用の垂直ワークステーションで、精密な X/Y/Z/θ ステージ制御、さらに長い半径の曲率測定向けの延長 Z 軸が搭載されています。

ガントリーシステム、大型移動ステージ、および特殊なソフトウェアにより NewView™ 光学プロファイラー は大型パネルの微小な表面特徴を事前にプログラムされた位置で測定できます。

大型平面光学測定用の、Verifire 干渉計システム 搭載の 24 インチビーム拡大器

Verifire 干渉計および 12 インチの下向きビーム拡大器との統合システムは、最大 30x30x12 インチの平面コンポーネントを測定するための自動アパーチャーステッチを採用しています。

当社の応用エンジニアが御社チームとともに、御社に固有の要件に合うようにカスタマイズされた計測ソリューションを開発します。当社は標準システムの改良、特殊な冶具の設計および構築、ソフトウェアアプリケーションのカスタマイズ、または御社専用の一意のシステム全体を加工することが可能です。

カスタム計測ソリューションには以下が含まれます：

垂直統合

ワールドクラスの光学製造

完全な文書化

特定のニーズへのソリューション

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