薄膜測定

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薄膜測定 薄膜トポグラフィー、および基板トポグラフィーの精密で、信頼できる、特性化

薄膜測定および特性化
透明薄膜は、電化製品、半導体、光学などの様々な市場で重要です。薄膜下降の精密なモニタリングと制御は、表面、厚さ、および基板の表面特性の測定により可能です。これらすべては複数回の薄膜測定と ZYGO の3D 光学プロファイラーで利用可能な分析技術で実行できます。

詳細モデルベース分析 (MBA) は最も高度な CSI ベースの 薄膜測定 技術で ZYGO で利用でき、サンプル膜積層の理論モデルと、プロファイラーが確認した実際の測定信号を比較することで動作します。この特許取得済技術は 50 ~ 2000 nm の単一層膜のトポグラフィー、厚さ、さらに基板トポグラフィーを数秒の内に同時に測定します。薄膜特性化に加えて、MBA 技術は、このような状況で発生する反射の位相変化(PCOR)を調整することで、似ていない材料の実際のトポグラフィー測定の実行に使用できます。

基準膜分析 (LSQ)膜厚 および 1 – 150 µm の光学厚さのフィルム基板、さらに 0.4 – 150 µm のフィルム表面の測定に使用されます。厚い 膜計測 は複数回の材料インターフェースにより作成された干渉信号を分離することで動作し、フィルムの屈折率についての基本的な知識しか必要としません。

CSI 技術に基づいているので、MBA および LSQ薄膜測定 技術には他の技術にはないいくつかのメリットがあります。

• 3D 領域表面マップは、膜計測 の厚さの数字を一桁に減った場合には観察できない工程を理解するコンテキストを提供します。

膜測定 はレンズを通して行われるので、対象領域がプロファイルされている領域であることを確実にできます。

• ほとんどの MBA または LSQ 薄膜測定には追加ハードウェアは不要です。

基準フィルム分析 (LSQ) は NewView 8000Nexview プロファイラーではオプションとして利用可能で、詳細モデルベース分析 (MBA) では、Nexview プラットフォーム専用のオプションとして利用可能です。

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