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計測システム
3D 表面粗さ/形状測定機
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動的計測 表面プロファイリングアプリケーション![]()
主要機能:
高速、非接触表面トポグラフィー 測定 完全な 3D 固定および動的計測 性能 ナノメートル未満の Z 解像度 多様な視野および倍率 大型垂直スキャン範囲 包括的なデータ区分および 分析 溶融または反射性 表面に対応 MEMS 研究および製造の困難かつ多様なニーズを満たすために、ZYGO コーポレーションは精密な表面測定 およびマイクロデバイスの特性評価用の 3D 光学プロファイラーである NewView™ シリーズを開発しました。最先端で特許取得済の技術を活用した NewView™ は、単一プラットフォーム上でナノメートル未満の解像度で柔軟かつ包括的な MEMS 計測のための滑らかな表面や粗い表面、大型ステップ、および厚膜の非接触表面プロファイリングを可能にします。 ここをクリックして ZYGO 社の NewView™ 表面プロファイラーについて知る。 質問フォーム
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